• Mesure fiable et répétable des caractéristiques dynamiques des semi-conducteurs de puissance à large bande (SiC, GaN) pour les dispositifs discrets et les modules de puissance.
• Les caractéristiques mesurées comprennent l'allumage, l'arrêt, la commutation, la récupération inverse, la charge de la porte et bien d'autres.
• Problème d'isolement True Pulse pour mesurer l'appareil de côté supérieur d'un module de puissance.
• Technologie de contact sans soudure pour des résultats fiables et répétables sans soudure.
• Environnement d'essai sûr pour le DUT et l'utilisateur.
• Une plateforme modulaire personnalisable, évolutive, mise à niveau permet de tester tous les appareils électriques.

En tant que solution de mesure prête à l'emploi, le PD1550A fournit des mesures fiables et répétables de modules de puissance à large bande.La plateforme assure la sécurité des utilisateurs et la protection du matériel de mesure du systèmeLa capacité d'assurer des résultats fiables et répétables des tests à double impulsion (DPT) repose sur les plus de 80 ans d'expertise de Keysight en science des mesures.Avec l'expérience acquise en travaillant en étroite collaboration avec les clients et les organisations de normalisation avec le PD1500A, Keysight aide désormais ses clients à surmonter les défis de la caractérisation dynamique des modules de puissance WBG.faible fuite (plage femto-ampère), et puissance pulsée (1 500 A de courant, résolution de 10 μs).

Le PD1550A comprend des techniques de mesure avancées standard telles que la compensation de la sonde, le réglage du décalage, le décalage et le rejet du bruit du mode commun.Ces techniques sont utilisées dans le cadre d'une topologie et d'une disposition de mesure innovantesUne routine d'étalonnage semi-automatisée (AutoCal) qui corrige les erreurs de gain et de décalage du système a été spécialement développée pour ce système.Le système utilise également des techniques de désintégration pour compenser les parasites inductifs dans le shunt actuelLa technologie True Pulse Isolate Probe pour des mesures précises de Vgs de côté élevé et la technologie de contact sans soudure permettent des mesures fiables répétables sans avoir à souder de gros tampons de contact.

Le Joint Electron Device Engineering Council (JEDEC) est le leader mondial dans le développement de normes et de publications ouvertes pour l'industrie de la microélectronique.Les comités JEDEC assurent le leadership de l'industrie dans l'élaboration de normes pour un large éventail de technologies.

JEDEC Comité: JC-70 Large bande passante électronique de conversion de puissance semi-conducteurs
Les normes JEDEC ont reconnu la nécessité de fournir des normes WBG pour l'industrie des semi-conducteurs de puissance.le comité JC70 Wide Bandgap Power Electronic Conversion Semiconductor a été formé pour les deux GaN JC70.1 et SiC JC-70.2 Chaque section est composée de trois groupes de travail, axés sur les procédures de fiabilité et de qualification, les éléments et paramètres de la fiche de données et les méthodes d'essai et de caractérisation.

Keysight participe activement à l'élaboration de ces normes.

Alors que JEDEC continue de définir les tests dynamiques des dispositifs WBG, certains tests standardisés commencent à émerger.

• Caractéristiques d'allumage
• Caractéristiques d'arrêt
• Résistance dynamique
• Courant dynamique et tension
• Caractéristiques de commutation