• Mesure fiable et répétable des caractéristiques dynamiques des semi-conducteurs de puissance à large bande (SiC, GaN).
• Les caractéristiques mesurées comprennent l'allumage, l'arrêt, la commutation, la récupération inverse, la charge de la porte et bien d'autres.
• L'environnement d'essai SAT pour le DUT et pour l'utilisateur.
• Une plateforme modulaire évolutive et mise à niveau permet de tester tous les appareils électriques.

En tant que solution de mesure prête à l'emploi, le PD1500A fournit des mesures fiables et répétables des semi-conducteurs à large bande.La plateforme assure la sécurité des utilisateurs et la protection du matériel de mesure du système.

La capacité d'assurer des résultats DPT répétables s'appuie sur l'expertise de Keysight dans le domaine de la science des mesures.faible fuite (plage femtoampère), et puissance pulsée (1 500 A de courant, résolution de 10 μs).

Le PD1500A comprend des techniques de mesure standard telles que la compensation de la sonde, le réglage du décalage, le décalage et le rejet du bruit du mode commun.Ces techniques sont utilisées dans le cadre d'une topologie et d'une disposition de mesure innovantesUne routine d'étalonnage semi-automatisée (AutoCal) qui corrige les erreurs de gain et de décalage du système a été spécialement développée pour ce système.Le système utilise également des techniques de désintégration pour compenser les parasites inductifs dans le shunt actuel.

JEDEC est le leader mondial dans le développement de normes et de publications ouvertes pour l'industrie de la microélectronique.Les comités JEDEC assurent le leadership de l'industrie dans l'élaboration de normes pour un large éventail de technologies.

JEDEC Comité: JC-70 Large bande passante électronique de conversion de puissance semi-conducteurs
Les normes JEDEC ont reconnu la nécessité de fournir des normes WBG pour l'industrie des semi-conducteurs de puissance.le comité JC70 Wide Bandgap Power Electronic Conversion Semiconductor a été formé pour les deux GaN JC70.1 et SiC JC-70.2 Chaque section est composée de trois groupes de travail, axés sur les procédures de fiabilité et de qualification, les éléments et paramètres de la fiche de données et les méthodes d'essai et de caractérisation.

Keysight participe activement à l'élaboration de ces normes.

Alors que JEDEC continue de définir les tests dynamiques des dispositifs WBG, certains tests standardisés commencent à émerger.

• Caractéristiques d'allumage
• Caractéristiques d'arrêt
• Résistance dynamique
• Courant dynamique et tension
• Caractéristiques de commutation
• Récupération inverse
• Frais de porte
• Caractéristiques de sortie dérivées